X-Işını Kırınım yöntemi (XRD)
X-Işını Kırınım yöntemi (XRD), her bir kristal fazın kendine özgü atomik dizilimlerine bağlı olarak, X-ışınlarının karakteristik bir düzen içerisinde kırılması esasına dayanır. XRD cihazıyla kristal yapıdaki malzemelerin nitel incelemeleri yapılır. Cihaz toz veya bulk halindeki numune analizlerine uygundur.
Cihazda bakır (Cu) x-ray kaynağı, son teknoloji optik düzenekler, numune tutucular ve pixel teknolojisine sahip CERN patentli XRD dedektör (PIXcel 1D) sistemi mevcuttur.
Uygulama Alanları
· Jeolojide minerallerin ve kayaçların tanımlanmasında
· Metal ve alaşım analizlerinde
· Seramik ve çimento sanayiinde
· Polimerlerin analizinde
· İlaç endüstrisinde belli bir malzeme içindeki polimorfların ve safsızlıkların tespitinde
Arkeolojide, tarihi yapıları oluşturan malzemelerin tayininde